更多“THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定,红外线动态检测测温成绩不能保证()”相关的问题
第1题
THDS-B(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温()
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第2题
THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差()
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第3题
THDS-C(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定,影响热靶曲线,会造成测温误差大()
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第4题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率()
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第5题
THDS-B(哈科所)探测站制冷电流不稳定不会造成探头测温出现误差()
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第6题
THDS-B(哈科所)探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检()
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第7题
在THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统中板温插头松动的故障现象是()
A.环温-50度
B.轴温-50度
C.板温-50度
D.温升正常
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第8题
THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统环温传感器电缆断路,造成环温显示,可能与环温头有关()
A.-200度
B.-50度
C.200度
D.100度
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第9题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板()
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第10题
THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板()
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